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       X熒光光譜儀的檢測(cè)，可針對(duì)礦石品位做針對(duì)性的分析檢測(cè)，為獲取有效的分析數(shù)據(jù)，對(duì)礦石樣品需要做前處理。將整塊的礦石粉碎處理，并將礦石粉末壓制成片。

       礦石的粉碎處理，可用瑪瑙或碳化鎢研缽人工研磨，現(xiàn)在較多使用機(jī)械振動(dòng)磨或球磨機(jī)，效率很高。一般樣品均可粉碎至74μm以下（通過200目篩子）。隨著粉碎時(shí)間的延長(zhǎng)，顆粒度減小到一定程度不再變細(xì)，如果繼續(xù)粉碎，反而會(huì)發(fā)生“團(tuán)聚”現(xiàn)象。要提高粉碎效率，可以加入固體或液體助磨劑。粉碎時(shí)間越長(zhǎng)，粉碎容器帶來的污染越嚴(yán)重，因此，選擇一種合適的粉碎容器很重要。要比較這種污染，可以分析一種很硬的物質(zhì)（如石英）經(jīng)粉碎后的污染情況，或?qū)Ρ葍煞N不同粉碎方法的分析結(jié)果。在分析痕量元素時(shí)，為了提高分析的靈敏度和準(zhǔn)確度，這是非常必要的。還有一種污染，是不同粉碎試樣間的相互污染。每次粉碎后都要保證容器清洗干凈，當(dāng)樣品量較多時(shí)，粉碎前可用少量樣品預(yù)“清洗”兩次。

礦石樣品的前處理重要性

       在將樣品粉碎處理后，就需要采用壓片處理。壓樣設(shè)備常見的有手動(dòng)或電動(dòng)液壓機(jī)，粉末樣品裝入鋁杯或鋁環(huán)（或塑料環(huán)）中，在相應(yīng)的模具中加壓成型。在真空光譜儀中，粉末壓片可能會(huì)含有空氣或其它氣體而發(fā)生濺射，既破壞了試樣表面，又污染了樣品室。可先在真空中壓制成塊，或在氦氣光路中測(cè)量。為了減少壓入片內(nèi)空氣的量，在裝樣時(shí)可輕拍樣品，加壓時(shí)要逐步增大壓力，同時(shí)還要保壓一定的時(shí)間。

       X熒光光譜儀分析是一種表面分析，尤其對(duì)于輕元素，分析時(shí)有效層厚度只有幾個(gè)至十幾個(gè)μm，表面的污染是致命的問題，同時(shí)還要求表面平滑。所以每次壓片后都要把模具的表面洗凈，隔一段時(shí)間還要對(duì)塞柱表面（對(duì)應(yīng)于樣片被測(cè)面）適當(dāng)拋光。試樣在保存過程中也要防止表面污染、表面破損、吸潮、氧化、吸附空氣等。壓片后盡快測(cè)量，對(duì)于標(biāo)樣、管理樣等需長(zhǎng)期保存的試樣，以粉末狀態(tài)密封保存較好，需要時(shí)臨時(shí)壓片。